A Metric for the Evaluation of Restricted Domain Ontologies

Autores/as

  • Mireya Tovar Vidal Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico
  • David Eduardo Pinto Avendaño Benemérita Universidad Autónoma de Puebla
  • Azucena Montes Rendón Instituto Tecnol\'ogico de Tlalpan
  • Juan Gabriel González Serna Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico (CENIDET)

DOI:

https://doi.org/10.13053/cys-22-1-2792

Palabras clave:

Ontology evaluation, format concept analysis, syntactic patterns

Resumen

In this article, we propose a metric for the automatic evaluation of restricted domain ontologies. The metric is defined in terms of the evaluation of different lexico-syntactic, statistical and semantic approaches. A syntactic approach employed is the use of lexical syntactic patterns, other approaches as grouping by formal concept analysis, similarity, latent semantic analysis and dependence graphs are used as well. These approaches focus on reference corpora to find evidence of the validity of concepts and semantic relationships stored in the target ontology. The proposed evaluation approach is able to provide a score obtained through the metric, which is based on the accuracy measure used for each ontology evaluated. The score is associated in some way with the ontology quality. This score is given with a certain degree of reliability, and it is obtained by comparing the results given against the evaluation of human experts and a baseline.

Biografía del autor/a

Mireya Tovar Vidal, Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico

Actualmente estudiante de doctorado en el Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico, Cuernavaca, Morelos. También soy profesor-investigador de tiempo completo en la Facultad de Ciencias de la Computación de la Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, México.

David Eduardo Pinto Avendaño, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

Facultad de Ciencias de la Computación

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Publicado

2018-03-30

Número

Vol. 22 Núm. 1 (2018): Thematic Issue on Language & Knowledge Engineering (Guest Editors: D. Pinto, D. Vilariño, B. Beltrán)

Sección

Articles of the Thematic Issue

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